Could an open-source approach to test systems help the embedded systems industry?

Schnelle Fakten

• Interne Autorenschaft

  Prof. Dr. Carsten Alexander Wolff

• Weitere Publizierende

  Peter Schulz, Noura Sleibi, Christian Hensen

• Veröffentlichung

  • 2024
  • Band 2024 IEEE AUTOTESTCON

• Organisationseinheit

  IDiAL

• Fachgebiete

  • Informatik allgemein

• Format

  Konferenzpaper