Zitat
A. Walsemann, M. Karagounis, A. Stanitzki, and D. Tutsch, “Fault tolerance evaluation study of a RISC-V microprocessor for HEP applications,” Journal of Instrumentation, vol. 19, pp. C02012–C02012, 2024.
Fault tolerance evaluation study of a RISC-V microprocessor for HEP applications
Schnelle Fakten
Interne Autorenschaft
Weitere Publizierende
Alexander Walsemann, Alexander Stanitzki, Dietmar Tutsch
Veröffentlichung
- 2024
Titel des Sammelbands
Fault tolerance evaluation study of a RISC-V microprocessor for HEP applications
Titel des Konferenzbands
19
Titel der Zeitschrift/Zeitung
Journal of Instrumentation
Organisationseinheit
Fachgebiete
- Mikro- und Nanoelektronik
Forschungsschwerpunkte
- Learning Chips Lab (LCL)
Format
Journalartikel (Artikel)